TDAI Lab、画像改ざん検知に特化した「電子透かし」技術を開発

東京大学・鳥海研究室から発足したAIベンチャーのTDAI Labは23日、画像にコンテンツの発行元や作成日などの来歴情報を目に見えない形で埋め込むステガノグラフィー（電子透かし）技術を発展させ、ディープフェイクなどによる攻撃の改ざん箇所の特定ができる電子透かし技術を開発したと発表した。

同社の電子透かしを施した画像にディープフェイクを適用し（左）、改ざん箇所を推定した結果（右）」

同技術により、改ざんされた画像の編集箇所とその内容を明確に特定できるだけでなく、コンテンツの発信者が信頼性を担保しながら情報を共有することが可能になる。これら技術はフェイクニュースや偽情報の拡散を抑制し、デジタル社会における透明性向上に貢献する。

電子透かしは、画像などのデジタルコンテンツに発行元や作成日時、来歴情報といった情報を埋め込む技術。この技術は画像の特定ピクセルに微細な変化を加える形で埋め込むため、人間の目では検出できないのが特徴。しかし、従来の電子透かし技術には、トリミングやリサイズ、圧縮処理によって埋め込んだ情報が失われてしまうという課題があった。

TDAI Labでは、この課題を克服し、さまざまな改ざん手法に対しても堅牢な電子透かし技術を開発した。さらに同技術は、ディープフェイクといった高度な改ざんにも対応しており、電子透かしがついた画像に対してディープフェイクなどが行われた場合には、その剥がれた箇所から攻撃内容を特定し改ざん位置の可視化が可能になった。

同技術のアルファ版は、ニュースメディア、公的機関、EC事業者を中心に提供を開始した。アルファ版は実運用に向けたフィードバックを得ることを目的としており、同技術を検証する企業パートナーも同時に募集している。

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